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TEMP 2000A便攜式紅外發(fā)射率/反射率測定儀產品彩頁
發(fā)射率·半球光譜反射率·薄膜厚度測試
TEMP 2000A 便攜式紅外發(fā)射率/反射率測定儀，可在3-35 微米范圍內測試半球反射率測試 （total hemispherical reflectances） ，提供法線 方向和 半球方向300K 環(huán)境條件下的發(fā)射率測定。 可取代已經停產的業(yè)界標準 Gie薄膜厚度測試r Dunkle DB 100 紅外反射率測定計，并在性能和保養(yǎng)性方 面都優(yōu)于該型號反射計。并配備電池、充電器等，以及適應噴氣式飛機飛行環(huán)境的便攜箱， 緊湊、輕便、適合在野外和實驗室使用。符合 ASTM E408 標準。 TEMP2000A中采用的光學元件、鍍膜材料決定了其還可以在更寬的波長范圍進行測試。
